Поиск неисправностей в полупроводниковой памяти

В операционные системы большинства современных микропроцессорных систем встроены простые диагностические процедуры, выполняемые при запуске системы.

Довольно часто они проверяют функционирование микросхем ПЗУ и ЗУПВ. Для проверки ПЗУ обычно применяется метод нахождения контрольной суммы. Полученная сумма сравнивается с эталонной, и в случае их различия выдается соответствующее сообщение об ошибке.poisk_neispavnostey
Для диагностики ЗУПВ применяется совершенно другой метод, связанный с поочередной записью и считыванием каждого байта. При этом контролируется правильность выполнения требуемого изменения. Если какой-то бит не изменяется, диагностическая процедура временно останавливается и выдается идентифицирующее сообщение об ошибке. Обычно показывается адрес неисправного байта, что позволяет выявить конкретную микросхему или банк микросхем.
Более совершенные способы диагностики ЗУПВ включают в себя запись и считывание определенных двоичных наборов по более сложному алгоритму. Диагностику ЗУПВ можно также выполнить на неразрушающейся основе, и считанный из ЗУПВ байт заменяется сразу же после его проверки. При этом появляется возможность осуществить диагностический контроль через некоторое время после инициализации системы.
При наличии диагностических процедур поиск неисправностей в полупроводниковой памяти значительно упрощается. Однако иногда отказ микросхем ПЗУ или ЗУПВ препятствует нормальной инициализации системы, и в такой ситуации следует выполнить действия, описанные в гл. 5.
Обычно отказ отдельных элементов памяти можно обнаружить с помощью диагностических процедур, а затем требуется отыскать отказавшую микросхему. Иногда выход данных микросхемы зависает в том или ином состоянии. Такой отказ легко обнаружить с помощью логического пробника. В других случаях отказ в памяти может быть серьезнее, и отказавшая микросхема начинает потреблять излишнюю мощность, что приводит к ее перегреву. Рекомендуется придерживаться следующей процедуры определения отказа.
1. Пусть система поработает некоторое время. После этого коснитесь пальцем каждой микросхемы ПЗУ и ЗУПВ и проверьте их рабочую температуру. Наиболее нагретая микросхема становится подозрительной. (Температуру можно сравнить, касаясь аналогичной микросхемы на этой же или другой печатной плате.)
2. Когда микросхемы ПЗУ или ЗУПВ находятся в гнездах, поочередно вынимайте и заменяйте каждую из них (не забывая, конечно, выключать питание). Пользуйтесь заведомо работоспособными микросхемами. Если микросхемы ПЗУ или ЗУПВ впаяны в печатную плату, для поиска отказавшей микросхемы удобно использовать индикатор тока. С его помощью нужно проверить токи в критических точках печатной платы (например, по линии питания каждой микросхемы). Микросхема, потребляющая значительно больший (или значительно меньший) ток, чем другие, становится подозрительной.
Наконец, в качестве общего правила укажем, что когда подозрительная микросхема выпаяна из печатной платы, настоятельно рекомендуется пользоваться гнездом, а не просто впаивать в плату новую микросхему.